ASTM F1192-24 PDF
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices
Название (английский):
ASTM F1192-24
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 9 июля 2025 г.
- SKU:
- ASTM F1192-24