BS EN 60749-1:2003 PDF
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - General
Название (английский):
BS EN 60749-1:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - General
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 7 июля 2003 г.
- ICS:
- 31.080.01
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN 60749-1:2003