BS EN 60749-33:2004 PDF
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Accelerated moisture resistance. Unbiased autoclave
Название (английский):
BS EN 60749-33:2004
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Accelerated moisture resistance. Unbiased autoclave
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 22 июня 2004 г.
- ICS:
- 31.080.01
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN 60749-33:2004