Перейти к содержимому
Низкие цены. Оригиналы и переводы — экономьте время и бюджет.

BS EN 62047-12:2011 PDF

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures

Название (английский):
BS EN 62047-12:2011

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures

Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Дата публикации:
30 ноября 2011 г.
ICS:
31.080.99
Технический комитет:
CENELEC
SKU:
BS EN 62047-12:2011