BS EN 62047-21:2014 PDF
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 октября 2014 г.
- ICS:
- 31.080.99
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN 62047-21:2014