BS EN 62047-22:2014 PDF
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 октября 2014 г.
- ICS:
- 01.080.99
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN 62047-22:2014