BS EN 62374-1:2010 PDF
Semiconductor devices - Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Название (английский):
BS EN 62374-1:2010
Semiconductor devices - Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 декабря 2010 г.
- ICS:
- 29.140.20
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN 62374-1:2010