BS EN 62374:2007 PDF
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Название (английский):
BS EN 62374:2007
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
- Статус документа:
- product.statusDraft
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 октября 2008 г.
- ICS:
- 31.080.01
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN 62374:2007