Semiconductor devices. Constant current electromigration test
Semiconductor devices. Constant current electromigration test
Мы хотим включить аналитику посещений, чтобы понимать, что искать людям на сайте. Без вашего согласия счётчики не загружаются. Политика конфиденциальности
What is BS EN 62415 - Semiconductor constant current electromigration test about?
BS EN 62415 is an international standard used for semiconductor devices. It describes a method for conventional constant-current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.
What is BS EN 62415 - Semiconductor constant current electromigration test for?
BS EN 62415 on s emiconductor devices is useful for:
Manufacturers of semiconductor devices
Другие стандарты BS