BS EN IEC 60749-18:2019 PDF
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Ionizing radiation (total dose)
Название (английский):
BS EN IEC 60749-18:2019
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Ionizing radiation (total dose)
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 30 июня 2019 г.
- ICS:
- 13.110
- SKU:
- BS EN IEC 60749-18:2019