BS EN IEC 60749-20:2020 PDF
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Название (английский):
BS EN IEC 60749-20:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 октября 2020 г.
- ICS:
- 31.080.01
- SKU:
- BS EN IEC 60749-20:2020