BS EN IEC 60749-41:2020 PDF
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Название (английский):
BS EN IEC 60749-41:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 30 сентября 2020 г.
- ICS:
- 31.080.01
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN IEC 60749-41:2020