BS EN IEC 63616:2026 PDF
Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method
Название (английский):
BS EN IEC 63616:2026
Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 января 2026 г.
- ICS:
- 17.220.20
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN IEC 63616:2026