BS IEC 62047-29:2017 PDF
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature
Название (английский):
BS IEC 62047-29:2017
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 марта 2018 г.
- ICS:
- 31.080.01
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS IEC 62047-29:2017