BS IEC 62373-1:2020 PDF
Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Fast BTI test for MOSFET
Название (английский):
BS IEC 62373-1:2020
Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Fast BTI test for MOSFET
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 марта 2023 г.
- ICS:
- 31.080.30
- SKU:
- BS IEC 62373-1:2020