BS IEC 63229:2021 PDF
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
Название (английский):
BS IEC 63229:2021
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 августа 2023 г.
- ICS:
- 31.080
- SKU:
- BS IEC 63229:2021