Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials
Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials
Мы хотим включить аналитику посещений, чтобы понимать, что искать людям на сайте. Без вашего согласия счётчики не загружаются. Политика конфиденциальности
What is ISO 14606 - Sputter-depth profiling parameters about?
ISO 14606 discusses surface chemical analysis. The specific applications of ISO 14606 are as follows:
Single-layered and multilayered systems on a substrate as reference materials are useful for the optimization of depth resolution as a function of instrument settings in Auger electron spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy and secondary ion mass spectrometry
Systems...
Упомянутые в описании и другие стандарты BS