BS ISO 21222:2020 PDF
Surface chemical analysis. Scanning probe microscopy. Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method.
Название (английский):
BS ISO 21222:2020
Surface chemical analysis. Scanning probe microscopy. Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method.
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Количество страниц:
- 26
- Дата публикации:
- 7 февраля 2020 г.
- SKU:
- BS ISO 21222:2020