BS ISO 22489:2016 PDF
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength dispersive X-ray spectroscopy.
Название (английский):
BS ISO 22489:2016
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength dispersive X-ray spectroscopy.
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Количество страниц:
- 26
- Дата публикации:
- 31 октября 2016 г.
- SKU:
- BS ISO 22489:2016