BS ISO 24173:2009 PDF
Microbeam analysis. Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
Название (английский):
BS ISO 24173:2009
Microbeam analysis. Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
- Статус документа:
- Отменён
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 октября 2009 г.
- ICS:
- 71.040.50
- SKU:
- BS ISO 24173:2009