Перейти к содержимому
Низкие цены. Оригиналы и переводы — экономьте время и бюджет.

IEC 63202-1:2019 PDF

Photovoltaic cells - Part 1: Measurement of light-induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells

Название (английский):
IEC 63202-1:2019

Photovoltaic cells - Part 1: Measurement of light-induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells

Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
17
Дата публикации:
20 июня 2019 г.
Издание:
IEC IS 63202 edition 1 version 1
ICS:
27.160
Описание (английский):

IEC 63202-1:2019 describes procedures for measuring the light-induced degradation (LID) of crystalline silicon photovoltaic (PV) cells in simulated sunlight. The magnitude of LID in a crystalline silicon PV cell is determined by comparing maximum output power at Standard Test Conditions (STC) before, and after, exposure to simulated sunlight at a specified temperature and irradiance. The purpose of this document is to provide standardized PV cell LID information to help PV module manufacturers in minimizing the mismatch between cells within the same module, thereby maximizing power yield.

Технические детали

Технический комитет
TC 82 - Solar photovoltaic energy systems
SKU
IEC 63202-1:2019