Мы хотим включить аналитику посещений, чтобы понимать, что искать людям на сайте. Без вашего согласия счётчики не загружаются. Политика конфиденциальности
Найдено: 1
Overview IEC 60749-23:2025 - Semiconductor devices: High temperature operating life (HTOL) specifies an accelerated life test to determine the effects of bias conditions and elevated temperature on s…