Мы хотим включить аналитику посещений, чтобы понимать, что искать людям на сайте. Без вашего согласия счётчики не загружаются. Политика конфиденциальности
Найдено: 5
1 Scope This International Standard specifies a method for the calibration of the sputtered depth of a material from a measurement of its sputtering rate under set sputtering conditions using a singl…
Overview ISO 17109:2022 specifies a standardized method for sputter rate determination used to calibrate depth scales in sputter depth profiling by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), Auger elect…