Мы хотим включить аналитику посещений, чтобы понимать, что искать людям на сайте. Без вашего согласия счётчики не загружаются. Политика конфиденциальности
Найдено: 5
1 Scope This document specifies the method of selected area electron diffraction (SAED) analysis using a transmission electron microscope (TEM) to analyse thin crystalline specimens. This document ap…
Overview ISO 25498:2018 - "Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope" specifies a standardized method…
Overview ISO 25498:2025 - "Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope" specifies a standardized method…