BS EN 60749-22:2003 PDF
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Bond strength
Название (английский):
BS EN 60749-22:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Bond strength
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 4 июля 2003 г.
- ICS:
- 29.100.10
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN 60749-22:2003