Semiconductor devices. Hot carrier test on MOS transistors
Semiconductor devices. Hot carrier test on MOS transistors
Мы хотим включить аналитику посещений, чтобы понимать, что искать людям на сайте. Без вашего согласия счётчики не загружаются. Политика конфиденциальности
What is BS EN 62416 - Hot carrier test on MOS transistors about?
BS EN 62416 is an international standard used for semiconductor devices. BS EN 62416 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.
Who is BS EN 62416 -
Другие стандарты BS