BS EN IEC 60749-30:2020 PDF
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
Название (английский):
BS EN IEC 60749-30:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 30 сентября 2020 г.
- ICS:
- 31.080.01
- SKU:
- BS EN IEC 60749-30:2020