BS ISO 22278:2020 PDF
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics). Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam.
Название (английский):
BS ISO 22278:2020
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics). Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam.
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Количество страниц:
- 38
- Дата публикации:
- 26 августа 2020 г.
- SKU:
- BS ISO 22278:2020