Перейти к содержимому
Низкие цены. Оригиналы и переводы — экономьте время и бюджет.

IEC 62878-1-1:2015 PDF

Device embedded substrate - Part 1-1: Generic specification - Test methods

Название (английский):
IEC 62878-1-1:2015

Device embedded substrate - Part 1-1: Generic specification - Test methods

Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
109
Дата публикации:
20 мая 2015 г.
Издание:
IEC IS 62878 edition 1 version 1
ICS:
31.180
Описание (английский):

IEC 62878-1-1:2015 specifies the test methods of passive and active device embedded substrates. The basic test methods of printed wiring substrate materials and substrates themselves are specified in IEC 61189-3. This part of IEC 62878 is applicable to device embedded substrates fabricated by use of organic base material, which include for example active or passive devices, discrete components formed in the fabrication process of electronic wiring board, and sheet formed components.

Технические детали

Технический комитет
TC 91 - Electronics assembly technology
SKU
IEC 62878-1-1:2015