ISO 15470:2004 PDF
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Description of selected instrumental performance parameters
Название (английский):
ISO 15470:2004
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Description of selected instrumental performance parameters
- Статус документа:
- Отменён
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Количество страниц:
- 4
- Дата публикации:
- 3 мая 2004 г.
- Издание:
- ISO IS 15470 edition 1 version 1
- ICS:
- 71.040.40
Описание (английский):
ISO 15470:2004 describes the way in which specific aspects of the performance of an X-ray photoelectron spectrometer shall be described.
Технические детали
- Технический комитет
- ISO/TC 201/SC 7 - Electron spectroscopies
- SKU
- ISO 15470:2004