Перейти к содержимому
Низкие цены. Оригиналы и переводы — экономьте время и бюджет.

ISO 17915:2018 PDF

Optics and photonics — Measurement method of semiconductor lasers for sensing

Название (английский):
ISO 17915:2018

Optics and photonics — Measurement method of semiconductor lasers for sensing

Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
29
Дата публикации:
25 мая 2018 г.
Издание:
ISO IS 17915 edition 1 version 1
ICS:
31.260
Описание (английский):

This document describes methods of measuring temperature and injected current dependence of lasing wavelengths, and lasing spectral line width in relation to semiconductor lasers for sensing applications. This document is applicable to all kinds of semiconductor lasers, such as edge-emitting type and vertical cavity surface emitting type lasers, bulk-type and (strained) quantum well lasers, and quantum cascade lasers, used for optical sensing in e.g. industrial, medical and agricultural fields.

Технические детали

Технический комитет
ISO/TC 172/SC 9 - Laser and electro-optical systems
SKU
ISO 17915:2018