ISO 24173:2009 PDF
Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
Название (английский):
ISO 24173:2009
Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
- Статус документа:
- Отменён
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Количество страниц:
- 43
- Дата публикации:
- 14 сентября 2009 г.
- Издание:
- ISO IS 24173 edition 1 version 1
- ICS:
- 71.040.50
Описание (английский):
ISO 24173:2009 gives advice on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.
Технические детали
- Технический комитет
- ISO/TC 202 - Microbeam analysis
- SKU
- ISO 24173:2009