Мы хотим включить аналитику посещений, чтобы понимать, что искать людям на сайте. Без вашего согласия счётчики не загружаются. Политика конфиденциальности
Найдено: 2
What is BS IEC 63068 ‑ 2 - Silicon carbide homoepitaxial (SiC) wafer about? BS IEC 63068 is a series of international standards for semiconductor devices that specifies the defects in silicon carbide…
Overview IEC 63068-2:2019 specifies a non-destructive optical inspection test method for detecting as-grown defects in commercially available 4H‑SiC homoepitaxial wafers used for power devices. Part…