Мы хотим включить аналитику посещений, чтобы понимать, что искать людям на сайте. Без вашего согласия счётчики не загружаются. Политика конфиденциальности
Найдено: 2
Overview IEC 63616:2025 specifies a non‑destructive method for measuring the conductivity of metal thin films at microwave and millimeter‑wave frequencies using a balanced‑type circular disk resonato…