Мы хотим включить аналитику посещений, чтобы понимать, что искать людям на сайте. Без вашего согласия счётчики не загружаются. Политика конфиденциальности
Найдено: 3
Overview ISO 14237:2010 - Surface chemical analysis - Secondary‑ion mass spectrometry (SIMS) - specifies a standardized SIMS method for the quantitative determination of boron atomic concentration in…